Product >> Material Testing Equipment >> ESPEC
Evaluation Systems (Ion Migration / Conductor Resistance)

 

ระบบวัดประมวลผลเพื่อตรวจสอบหา Ion Migration และConductor Resistance Evaluation Systems (Ion Migration / Conductor Resistance)

 

         เป็นระบบวัดและเก็บข้อมูลอัตโนมัติเพื่อตรวจสอบหา Ion Migration หรือ Conductor Resistance ของชิ้นงานอิเล็คทรอนิคส์ ในขณะที่ทดสอบภายในตู้ Temperatue & Humidity chamber หรือ Thermal Shock chamber

         These systems are used to evaluate the electrical performance of semiconductor and electronic devices, etc., under temperature and humidity stress or high and low temperature Cycle  . Evaluation System enables continuous measurement of resistance changes under temperature and humidity stress or  high and low temperature Cycle or under . Automatic measurement, data storage and processing are operated systematically with a PC. Graphic display of data, compatibility with spreadsheet software, dataprocessing via LAN, are some of the features for realizing accurate and effective contact reliability evaluation.

 

Name
Email
รายละเอียด :